簡要描述:小型(xing)風冷式高(gao)低溫(wen)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)是主要做(zuo)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗的(de),就是一(yi)個(ge)箱(xiang)子里面(mian)有(you)兩個(ge)區域,一(yi)個(ge)給預(yu)冷一(yi)個(ge)給預(yu)熱,等到測試(shi)得時(shi)(shi)間(jian)就把預(yu)冷好溫(wen)度或預(yu)熱區的(de)溫(wen)度放出(chu)來,他的(de)是功能高(gao)溫(wen)轉至低溫(wen)之間(jian)可以(yi)在很(hen)快時(shi)(shi)間(jian)內(nei)沖(chong)擊(ji)完成試(shi)驗。
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品牌 | 愛佩科技/A-PKJ | 價格區間 | 5萬-10萬 |
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產地類別 | 國產 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,石油,建材,電子 |
小型(xing)風(feng)冷式高低(di)溫(wen)沖擊試驗(yan)箱適用(yong)的(de)行業及產(chan)(chan)品(pin)(pin)有光(guang)電、LED、顯示器、顯示屏連(lian)接器,PCB連(lian)接器,FPC,電感器,電子元器件(jian)(jian)(jian),數碼產(chan)(chan)品(pin)(pin),太(tai)陽(yang)能組件(jian)(jian)(jian),光(guang)伏組件(jian)(jian)(jian),光(guang)纖,LCD,PCB,FPC,微(wei)電子,電機,汽車燈產(chan)(chan)品(pin)(pin)及零部件(jian)(jian)(jian)等大型(xing)產(chan)(chan)品(pin)(pin)或者大型(xing)零部件(jian)(jian)(jian)。從很(hen)低(di)到(dao)很(hen)高的(de)溫(wen)度包(bao)括中間(jian)的(de)任意溫(wen)度均可隨意設定恒溫(wen)或者沖擊試驗(yan)。
制冷低溫區 | 溫度暴露范圍 | 0℃/-65℃ | ||
預熱溫度下限 | -75℃ | |||
溫度波動范圍 | ≤±0.5℃ | |||
溫度降溫時間 | -75℃≤60min | |||
加熱高溫區 | 溫度暴露范圍 | 60℃~150℃ | ||
預熱溫度上限 | 200℃ | |||
溫度波動范圍 | ≤±0.5℃ | |||
溫度上升時間 | 室(shi)溫200℃≥45min | |||
性能指標 | 溫度測試范圍可選 | A:-40℃~150℃ B:-40℃~150℃C:-65℃~150℃ | ||
溫度均勻動 | 高溫(wen)室(shi)及(ji)低溫(wen)室(shi)均≤±2℃ | |||
樣品區承重 | 30kg | 30kg | 30kg | |
溫度運行控制系統 | 主要控制器 | //中國臺灣(可選擇(ze))進(jin)口LED數顯(P、I、D +S、S、R.)微(wei)電(dian)腦集成控制(zhi)器 | ||
精度范圍 | 設定浮動度(du)(du):溫度(du)(du)±0.2℃,指示精度(du)(du):溫度(du)(du)±0.1℃,分(fen)辨(bian)率(lv):0.01℃ | |||
制冷系統 | 進(jin)口(kou)半(ban)封(feng)閉水冷式壓(ya)縮機組或原裝“泰康”/全封(feng)閉風冷壓(ya)縮制冷機組 | |||
循環系統 | 耐(nai)溫低噪(zao)音空調型電機(ji).多葉(xie)式(shi)離心風輪 | |||
溫度轉換時間 | 從制冷低溫(wen)區到加熱高溫(wen)區或從加熱高溫(wen)區到制冷低溫(wen)區≤10S | |||
溫度恢復時間 | ≤5min(恢復時(shi)間(jian)與暴(bao)露(lu)溫差、冷卻水(shui)溫、恒溫時(shi)間(jian)、樣品重量有(you)關(guan)) |
本設備滿足:
GB/T2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分試驗方法 試驗A 低溫;
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分:試驗方法 試驗B:高溫;
GB/T 10589-2008 低溫試驗箱技術條件;
GB/T 11158-2008 高溫試驗箱技術條件;
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件;
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環境試驗設備檢驗方法 總則;
GB/T5170.2-2008 電(dian)工(gong)電(dian)子產品環(huan)境試驗(yan)設備(bei)檢驗(yan)方法 溫度試驗(yan)設備(bei)。
用途:
小型(xing)風冷式高低(di)溫沖擊試(shi)驗箱用(yong)于電(dian)子電(dian)器零組(zu)件(jian)(jian)、自動化(hua)零部件(jian)(jian)、通訊組(zu)件(jian)(jian)、汽車配件(jian)(jian)、金屬、塑膠等行(xing)業,國防(fang)工業、航天、兵工業、電(dian)子芯(xin)片IC、 半導體陶瓷(ci)及(ji)高分(fen)子材料之物理(li)性變化(hua),測試(shi)其(qi)材料對高、低(di)溫的反復抵拉力(li)及(ji)產品于熱(re)脹冷縮產出的化(hua)學變化(hua)或物理(li)傷害,可確認產品的品質,從精密的IC到重機械的組(zu)件(jian)(jian),無一(yi)不需要它的理(li)想測試(shi)工具。
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