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小型線(xian)性快速(su)溫(wen)(wen)變試驗箱是一(yi)臺可以快速(su)做高溫(wen)(wen)、低溫(wen)(wen)、高低溫(wen)(wen)循環交變試驗的(de)箱子，它Z快的(de)速(su)度可以每分種(zhong)升降溫(wen)(wen)20℃，當然也可以根據(ju)顧(gu)客的(de)要(yao)求選擇(ze)非標(biao)設計(ji)定制出符合國標(biao)參數(shu)的(de)箱子。

線性快速(su)溫變試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)箱(xiang)適(shi)用于國防(fang)工(gong)業(ye)(ye),航空(kong)工(gong)業(ye)(ye)、自(zi)動化零(ling)組(zu)(zu)件、汽車(che)部(bu)件、電(dian)子電(dian)器儀(yi)表零(ling)組(zu)(zu)件、電(dian)工(gong)產品(pin)、塑 膠、化工(gong)業(ye)(ye)、食品(pin)業(ye)(ye)、制(zhi)藥工(gong)業(ye)(ye)及(ji)相(xiang)關產品(pin)等設備(bei)在(zai)周圍(wei)大氣溫度(du)急(ji)劇變化條(tiao)件下的適(shi)應(ying)性試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)（沖擊），適(shi)應(ying)于儀(yi)器、儀(yi)表、電(dian)工(gong)、電(dian)子產品(pin)整(zheng)機及(ji)零(ling)部(bu)件等作(zuo)溫度(du)快速(su)變化或漸變條(tiao)件下的適(shi)應(ying)性試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)及(ji)應(ying)力篩選試(shi)(shi)(shi)驗(yan)(yan)以(yi)便對(dui)試(shi)(shi)(shi)品(pin)在(zai)擬定(ding)條(tiao)件下的性能、行為作(zuo)出分析(xi)及(ji)評價（快速(su)變化）。

快速溫變試驗箱用于電子電器(qi)零(ling)組(zu)件(jian)、自動化零(ling)部件(jian)、通訊組(zu)件(jian)、汽車配件(jian)、金屬、化學(xue)材料(liao)、塑(su)膠等行業，國防工(gong)業、航(hang)天、兵(bing)工(gong)業、BGA、PCB基(ji)扳(ban)、電子芯片(pian)IC、半導體(ti)陶磁(ci)及(ji)高(gao)分子材料(liao)之物理牲(sheng)變化，測(ce)試其材料(liao)對高(gao)、低(di)溫的(de)(de)(de)(de)反復(fu)抵拉力及(ji)產品于熱脹冷縮(suo)產出(chu)的(de)(de)(de)(de)化學(xue)變化或物理傷害，可(ke)確認產品的(de)(de)(de)(de)品質，從精密的(de)(de)(de)(de)IC到重機械(xie)的(de)(de)(de)(de)組(zu)件(jian)，無一(yi)不需(xu)要它的(de)(de)(de)(de)理想測(ce)試工(gong)具。

快速(su)溫(wen)(wen)度變化試驗箱在設(she)計強度極限下(xia)，運用溫(wen)(wen)度加(jia)速(su)技巧（在上、下(xia)限極值溫(wen)(wen)度內進行循環(huan)時(shi)，產(chan)品產(chan)生交(jiao)替膨(peng)脹和收縮）改變外在環(huan)境(jing)應(ying)(ying)力(li)，使(shi)產(chan)品中(zhong)產(chan)生熱應(ying)(ying)力(li)和應(ying)(ying)變，透(tou)過加(jia)速(su)應(ying)(ying)力(li)來使(shi)潛(qian)存(cun)于(yu)產(chan)品的瑕疵浮(fu)現[潛(qian)在零件(jian)材料(liao)瑕疵、制(zhi)程(cheng)(cheng)瑕疵、工藝瑕疵]，以(yi)避(bi)免該產(chan)品于(yu)使(shi)用過程(cheng)(cheng)中(zhong)，受到環(huan)境(jing)應(ying)(ying)力(li)的考驗時(shi)而導(dao)致失(shi)效，造成不必要(yao)的損(sun)失(shi)，對于(yu)提高產(chan)品出貨良(liang)率(lv)與降低返修次數(shu)有(you)顯

快(kuai)速(su)升降溫(wen)試(shi)驗機是指(zhi)按(an)客戶要求定制平(ping)均每(mei)分鐘(zhong)升降溫(wen)多少(shao)度(du)來進(jin)行(xing)(xing)電工(gong)、電子(zi)(zi)產(chan)品、元器件(jian)、零(ling)部件(jian)及其材(cai)料進(jin)行(xing)(xing)高(gao)溫(wen)、低(di)溫(wen)或高(gao)低(di)溫(wen)漸變的(de)試(shi)驗，還可以對電子(zi)(zi)元器件(jian)及產(chan)品進(jin)行(xing)(xing)應力篩選（ESS）試(shi)驗。

高(gao)低(di)溫(wen)快(kuai)速溫(wen)度變化(hua)試(shi)驗箱內環境和被測(ce)產(chan)品產(chan)生快(kuai)速溫(wen)度變化(hua)，從而大大減少了(le)試(shi)驗時間(jian)，提高(gao)了(le)試(shi)驗的工作效(xiao)率(lv)。快(kuai)速溫(wen)度變化(hua)也使被測(ce)產(chan)品產(chan)生了(le)更大的應力，因而也提高(gao)了(le)應力篩選(xuan)效(xiao)率(lv)。