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led冷熱(re)沖(chong)擊(ji)試(shi)(shi)驗機(ji)基于快速溫(wen)(wen)度變化(hua)技術。它(ta)通常由熱(re)溫(wen)(wen)區(qu)、冷溫(wen)(wen)區(qu)和測試(shi)(shi)區(qu)三部(bu)分(fen)組成，具有蓄(xu)熱(re)蓄(xu)冷沖(chong)擊(ji)效果。在測試(shi)(shi)過程中(zhong)，待測LED產(chan)品首先在熱(re)溫(wen)(wen)區(qu)或冷溫(wen)(wen)區(qu)達到穩(wen)態溫(wen)(wen)度，然后迅速移動到測試(shi)(shi)區(qu)以暴露于相反的(de)溫(wen)(wen)度。

LED冷熱(re)沖擊試驗機是(shi)一種用(yong)于測試電(dian)子產(chan)品、材(cai)料(liao)或組件在快速(su)溫(wen)(wen)度(du)變化下(xia)的穩定性和(he)(he)可(ke)靠性的設備。該試驗機使(shi)用(yong)高低溫(wen)(wen)箱和(he)(he)液氮或液氣作為冷熱(re)介質，通過(guo)控(kong)制溫(wen)(wen)度(du)、時間(jian)和(he)(he)循環次數來模擬(ni)實際應用(yong)場(chang)景中的溫(wen)(wen)度(du)變化。

LED冷(leng)熱沖擊試驗機是一種(zhong)通過加熱和(he)制冷(leng)系統以(yi)及精確的溫(wen)濕度(du)控制裝置，快(kuai)速改變(bian)測試區溫(wen)度(du)，從(cong)(cong)而在(zai)極短時(shi)間(jian)內完成對產品從(cong)(cong)低(di)溫(wen)到高溫(wen)或從(cong)(cong)高溫(wen)到低(di)溫(wen)循環(huan)沖擊的試驗設(she)備。這種(zhong)設(she)備能夠模擬(ni)LED產品在(zai)實際應(ying)用中可能遇到的各種(zhong)溫(wen)度(du)變(bian)化，以(yi)評(ping)估其在(zai)不(bu)同(tong)溫(wen)度(du)環(huan)境下的適(shi)應(ying)性和(he)性能穩定性。

led冷熱(re)沖擊(ji)試驗(yan)機(ji)不需要使(shi)用(yong)液(ye)態氣體(LN2或LCO2)輔助降溫，待測物靜止測試方式是當前電子部品測試、研(yan)究、以及半導體生產線大(da)量適用(yong)，愛佩為(wei)客戶(hu)提供長期(qi)可(ke)靠的測試工具。

led冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱現(xian)貨是提供給led產品(pin)、led配件、led顯(xian)示屏(ping)、led燈(deng)、led照明、led顯(xian)示屏(ping)控制器、lled燈(deng)泡、led大(da)功率燈(deng)珠、led電子(zi)顯(xian)示屏(ping)等與led相關的(de)(de)產品(pin)進行環境模擬試(shi)驗，通過冷(leng)熱循(xun)環沖擊檢(jian)測來判斷產品(pin)的(de)(de)性能是否仍然能夠符合預定的(de)(de)標準(zhun)要求，以便(bian)led產品(pin)改進、設計、鑒定及出廠檢(jian)驗

LED冷熱沖擊(ji)試驗機在(zai)LED產(chan)品的(de)(de)質(zhi)量控(kong)制(zhi)和(he)研發(fa)過(guo)程中扮演(yan)著重(zhong)要(yao)的(de)(de)角(jiao)色，通過(guo)模(mo)擬溫(wen)度(du)環境，評(ping)估LED產(chan)品的(de)(de)性(xing)能和(he)可靠性(xing)，為產(chan)品改進和(he)質(zhi)量控(kong)制(zhi)提(ti)供了關鍵支(zhi)持。

LED冷熱沖(chong)擊試驗機主要用于測試LED產品在(zai)不同溫度環境下的(de)工作(zuo)狀(zhuang)態和性能表現(xian)。試驗機通過加(jia)熱和制(zhi)冷系(xi)統，以及精確的(de)溫濕度控(kong)制(zhi)裝置，快速改(gai)變(bian)測試區的(de)溫度，從而在(zai)極短時間(jian)內完成對產品從低溫到高溫或從高溫到低溫的(de)循環沖(chong)擊。

半導體(ti)冷熱(re)沖擊試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)適(shi)用于工業產品(pin)高(gao)、低(di)溫的可靠性試(shi)驗(yan)(yan)(yan)。對電子電工、汽車(che)摩托、高(gao)等院校、科研單位等相關產品(pin)的零(ling)部件及材料在(zai)高(gao)、低(di)溫（交變(bian)）循環變(bian)化的情況下,檢驗(yan)(yan)(yan)其(qi)各(ge)項(xiang)性能指標。產品(pin)具(ju)有(you)較寬的溫度控制(zhi)范圍，其(qi)性能指標均達到(dao)國(guo)家標準GB10592-89高(gao)低(di)溫濕熱(re)試(shi)驗(yan)(yan)(yan)箱(xiang)技術條件，適(shi)用于按GB2423.1、GB2423.2《電工電子產品(pin)環境試(shi)驗(yan)(yan)(yan) 試(shi)驗(yan)(yan)(yan)A：低(di)溫試(shi)驗(yan)(yan)(yan)方法